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清大發現光絲化機制 埃秒脈衝助半導體材料檢測

by 中央社 - 2026-05-13 17:22 5239 Views

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(中央社記者魯鋼駿新竹市13日電)國立清華大學電機工程學系研究團隊利用「光絲化」機制引導雷射光,使其自然壓縮並產生高品質的孤立埃秒脈衝,如同超高速閃光燈,能運用在半導體先進製程中的材料檢測。